日本电测densoku荧光X射线膜测厚仪EX-731

凭借出色的可操作性，
即使对于大型板，也可以以z高的精度测量极小的零件。

-采用双重过滤器，可实现z高精度和z佳条件
的测量
-通过将鼠标移至测量位置来实现快速对准-多任务功能可进行其他处理，甚至在测量过程中也可创建报告-
z小准直仪为0.05φmm，可以测量非常小的零件

荧光X射线膜测厚仪EX-731的特点

采用双重过滤器

通过使用除中性过滤器之外的机械过滤器（双重过滤器），可以在z佳条件下进行测量，从而始终获得z高的精度。

自动测量阶段

通过将鼠标对准测量位置实现快速对准。另外，如果注册测量位置，则可以进行连续自动测量。通过坐标校正和通道链接支持各种模式。标准板校准也可以自动测量。

增强的报告创建功能

通过采用MS-Windows软件，您可以轻松捕获测量屏幕并增强报告创建功能。使用多任务功能，即使在测量过程中，也可以进行包括报告创建在内的其他处理。

内置5种准直仪

z小准直仪为0.1φmm，可测量极小的零件。标准0.1、0.2、0.5、1.0、2.0
另外，有两种特殊规格可供选择。
・ 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
・ 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自诊断功能和X射线管维护功能

自诊断功能可以迅速解决设备问题。另外，增加了X射线管的使用时间和耐用时间显示功能，以确保维护安全。

膜厚测量中的频谱显示

多通道光谱分析高速处理使简单的操作可以显示被测物体的光谱。（处理速度约2至3秒）

显示测量单元监控图像

将X射线照射部件导入Windows屏幕并显示X射线照射部件。准直仪实现改变尺寸的放大率改变功能。

可视化显示被测物的镀层附着力分布

三维图形显示使查看被测物的镀层厚度分布变得容易。

 日本电测densoku荧光X射线膜测厚仪EX-731

荧光X射线膜厚计EX-731的规格