日本densoku荧光X射线膜测厚仪COSMOS-3X

节省空间，出色的可操作性，以z高的精度测量极小的零件

-采用双重过滤器，可以在z高精度和z佳条件下进行测量-多任务功能可以进行其他处理，甚至在测量过程中也可以创建报告-z小准直仪为0.05φmm，可以测量极小的零件

荧光X射线膜厚度计COSMOS-3X的功能

采用双重过滤器

通过使用除中性过滤器之外的机械过滤器（双重过滤器），可以在z佳条件下进行测量，从而始终获得z高的精度。

增强的报告创建功能

通过采用MS-Windows软件，您可以轻松捕获测量屏幕并增强报告创建功能。使用多任务功能，即使在测量过程中，也可以进行包括报告创建在内的其他处理。

内置5种准直仪

z小准直仪为0.1φmm，可测量极小的零件。标准0.1、0.2、0.5、1.0、2.0
另外，有两种特殊规格可供选择。
・ 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
・ 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自诊断功能和X射线管维护功能

自诊断功能可以迅速解决设备问题。另外，增加了X射线管的使用时间和耐用时间显示功能，以确保维护安全。

膜厚测量中的频谱显示

多通道光谱分析高速处理使简单的操作可以显示被测物体的光谱。（处理速度约2至3秒）

显示测量单元监控图像

将X射线照射部件导入Windows屏幕并显示X射线照射部件。准直仪实现改变尺寸的放大率改变功能。

 日本densoku荧光X射线膜测厚仪COSMOS-3X

荧光X射线膜厚度计COSMOS-3X的规格