日本电测densoku荧光X射线膜测厚仪EX-851

配备自动对焦
选择两种测量模式以使测量工作更顺畅

・自动测量模式
⇒将要测量的物体放在激光笔照射位置，关门时，载物
　台将自动移动并自动进行测量。
-手动测量模式
⇒类似于上面的自动测量模式，当设置了要测量的物体并且
　门关闭时，载物台会自动移动甚至聚焦

荧光X射线膜测厚仪EX-851的特点

多测量/多校准线

记录坐标并从激光指示器的照射位置自动测量多个点。
可以使用不同的校准线测量多个点。

自动对焦

只需将测量单元对准激光指示器的位置，然后关上门即可自动移至测量值并执行测量。
测量后，打开门，载物台将自动返回到前面。

采用双重过滤器

通过使用除中性过滤器之外的机械过滤器（双重过滤器），可以在z佳条件下进行测量，从而始终获得z高的精度。

增强的报告创建功能

通过采用MS-Windows软件，您可以轻松捕获测量屏幕并增强报告创建功能。
使用多任务功能，即使在测量过程中，也可以进行包括报告创建在内的其他处理。

内置5种准直仪

z小准直仪为0.1φmm，可测量极小的零件。
标准0.1、0.2、0.5、1.0、2.0
另外，有两种特殊规格可供选择。
・ 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
・ 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自诊断功能和X射线管维护功能

自诊断功能会立即采取措施解决设备问题。
另外，增加了X射线管的使用时间和耐用时间显示功能，以确保维护安全。

膜厚测量中的频谱显示

多通道光谱分析高速处理使简单的操作可以显示被测物体的光谱。（处理速度约2至3秒）

显示测量单元监控图像

将X射线照射部件导入Windows屏幕并显示X射线照射部件。
准直仪实现改变尺寸的放大率改变功能。

可视化显示被测物的镀层附着力分布

3D图形显示使您可以一目了然地检查被测物体的镀层厚度分布。

Be窗口X射线管（选件）提高的性能（高精度）

我们已经为荧光X厚度计准备了Be窗口X射线管。

通过使用Be窗口X射线管，显着提高了Cr测量和Ni测量的重复测量精度。

与标准X射线管的比较

高能量（高原子序数）Sn等的测量与以前相同。

当测量低能量（低原子序数）的Cr和Ni时，重复精度提高了Cr约3倍，Ni约2倍。

当测量两层时，中间层Ni的测​​量精度提高了约20％。

通过使用Be窗X射线管，在Cr的情况下，与常规标准机器相比，可以获得约9倍或更大的荧光X射线强度。

因此，可以在短时间内以与以前相同的精度进行测量。

请考虑使用此Be窗口X射线管。

  日本电测densoku荧光X射线膜测厚仪EX-851

荧光X射线膜厚计EX-851的规格