日本napson超高电阻范围兼容的薄层电阻检测CRN-100

产品特点

• 超高电阻范围：以非接触方式测量10E + 9至10E + 15Ω/□
• 平面多点测量功能
• 2D / 3D映射图像显示
• Windows 7软件
• 测量数据可以CSV文件格式输出
• 由于是非接触型，因此可以不受接触电阻的影响进行测量。

测量规格

测量目标

*通常，可以测量本设备测量范围内的任何样品。请联xi我们。

・超高电阻薄膜样品（a-Si，IGZO等）

・半导体材料接近绝缘

・导电橡胶

这样

测量尺寸

尺寸：z大300 x 400毫米

厚度：z大2毫米

*我们可以自定义您的要求，例如尺寸支持。请联xi我们。

测量范围

10E + 9〜10E + 15Ω/□