日本napson用于探头电阻/薄层电阻测量仪

产品特点

<探头头类型>

Napson 4探针测量系统使用了盒式磁带（*为Jandel的原始类型）。我们还为其他公司的设备提供6针连接器类型和小模块类型。

• （1）墨盒类型（Napson原装） 　[产品图片左上]
• （2）小模块类型　[产品图像左下方]
• （3）6针连接器类型　[产品图片右上]
• （4）Jandel原始类型 　[产品图片右下]

Napson的4探针法电阻/薄层电阻测量仪器使用由Jandel（UK）制造的高精度4探针探头。
Jandel探头z适合用于测量需要高精度的半导体和金属薄膜的电阻和薄层电阻，并且已经经过了多年的高度评估。
*由于使用了V型弹簧，因此触针压力始终稳定。
*上下均使用珠宝导板来固定探头，因此具有出色的针间精度和稳定性。
*轴和刀头是一体的，因此对刀头的损坏很小，并且具有出色的耐用性。

日本napson用于探头电阻/薄层电阻测量仪

测量规格

根据材料，表面条件和待测样品的形状选择类型。

<推荐参考示例>

*可以使用上述以外的样品进行测量（导电）。

*也可以使用其他类型。
*也可根据要求提供特殊规格。

（关于产品编号）
<示例>TC-40μ-200g/ 1.00mm-针
材料：TC;碳化钨（OS; alloy合金）-
针尖半径：40μm（可能在25μm至500μm之间）-
针压力（g /书）：200克（可能10克至250克）-
针间距：1.00毫米（可能0.5毫米至1.59毫米）-针
排列：线性（标准）（可能是正方形）