日本nanogray β射线测厚仪SB-1100系列

这是使用β射线（beta射线）的测厚仪（膜厚计）。以非接触方式（β射线）测量薄片和板状物体的厚度和密度（基本重量）。通过直接与参考物质比较来计算厚度和密度（基本重量），而不是直接测量厚度。
　通常，为了测量片材的宽度方向上的厚度分布，检测系统由扫描仪携带并进行测量。通常使用激光位移计作为不接触地测量厚度的手段，但是如果将激光位移计安装在扫描仪上，则其传送的精度远远低于激光位移计的精度，从而导致结果。高精度测量是困难的。
　另一方面，在诸如β射线测厚仪之类的通过透射衰减来估计厚度的方法中，测量了空气层-样本-空气层与渗透之间的衰减，但是样本的衰减远大于空气的影响，运输的影响仅表现为空气层厚度的变化，并且影响很小。因此，可以高精度地进行测量。

β射线测厚仪的一般特点

1. 基本重量可以在不依赖于元素的情况下进行测量。

我们的β射线测厚仪与常规β射线测厚仪相比的特点

1. 无需设置资格或控制区域（带显示的身份验证设备）
2. 检测单元和β射线源单元紧凑，轻便，甚至可以安装在狭窄的地方。

采用

• 塑料膜（多层挤出膜等）
• 电池电极（锂离子电池（负极/正极），镍氢电池等）
• 玻璃纤维布
• 陶瓷片
• 铜箔，铝箔，不锈钢箔

日本nanogray β射线测厚仪SB-1100系列

贝塔射线测厚仪SB-1100