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更新时间：2024-03-19 | 阅读：1531
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日本advance扫描热探针显微图像STPM-1000
使用热探针的塞贝克系数和热导率的二维分布测量装置。
该设备是一种分布测量设备，可以同时评估塞贝克系数和热导率。同时评估可以轻松评估热电特性。还可以评估功能梯度材料，多层基板和有机材料的热导率分布。
有望用作材料评估的基本工具。
日本advance扫描热探针显微图像STPM-1000
| 测量温度 | 室温+ 5℃ |
|---|---|
| z大样本量 | z大角度20毫米x厚度5毫米 |
| 塞贝克系数精度 | ±10％（单个散装样品的厚度为1 mm） |
| 导热精度* | ±50％（单个散装样品的厚度为1毫米） |
| 1点测量时间 | 少于10秒 |
| 本地分辨率 | 20微米 |
| 位置控制分辨率 | 1微米 |
| 样品移动距离 | x轴50mm，y轴50mm，z轴10mm |
| 电源 | AC100V 15A（不包括PC）W |
|---|---|
| 外形尺寸（主体） | 宽510 x深650 x t460（毫米） |
| 重量 | 约70kg |
| 安装面积 | 大约W1200 x D700（mm）*桌子 |
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