粘性保护膜用台式离线测厚仪TOF-C2介绍

模型	TOF-C2 * TOF-C 的后续型号
测量方法	非接触式/电容式
测量对象	薄膜、粘性保护膜、易附着灰尘的薄膜
测量原理	电容式

产品特点

• 高测量分辨率

• 由于是非接触型，因此非常适合接触型难以测量的薄膜。

• 即使表面状况粗糙，也可以进行测量。

• 基重测量

• 操作简单（具有自动介电常数设置功能）

产品规格

离线式测厚仪是台式紧凑型测厚仪。将薄膜或片材切成条状并测量。由于测量是在自动运输的同时进行的，因此任何人都可以轻松快速地进行测量，并且不受测量者技能的影响是一大特点。
常用于质量控制部门和研发应用。此外，由于测量的图形可以以环形显示，因此经常用于充气膜的制造现场。

型号：TOF-4R05

• 

• 测量方法

  线规/夹取法

• 测量对象

• 薄膜、片材

• 测量厚度

• 0.03 至 3 毫米

型号：TOF-5R01

测量方法

• 测量对象

• 这个电影

• 测量厚度

• 0.02-0.2毫米

型号：TOF-6R001

• 

• 测量方法

• 
  
  线性规

• 测量对象

• 薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等）

• 测量厚度

• 5-100微米

型号：TOF-C2 * TOF-C 的后续型号

• 

• 测量方法

• 非接触式
  电容式

• 测量对象

• 薄膜、粘性保护膜、易附着灰尘的薄膜

• 测量厚度

• ~ 500 微米

型号：TOF-S

• 

• 测量方法

• 非接触式
  光谱干涉仪

• 测量对象

• 电子、光学用透明平滑膜、多层膜

• 测量厚度

• 1 至 50 μm（用于薄材料）
  10 至 150 μm（用于厚材料）　　　　

型号：TOF-M

• 测量方法

• 
  
  线性规

• 测量对象

• 钢板或铝板等金属板

• 测量厚度

• 0.1-0.5毫米