光学薄膜新款研发用测厚仪介绍

模型	TOF-6R001
测量方法	接触式/线性量规
测量对象	薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等）
测量原理	线性规

产品特点

• 离线轻松快速地测量厚度

• 测量数据实时显示在屏幕上

• 测量数据可以自动保存在个人电脑上

• 由于是通过自动运输测量，所以测量数据没有个体差异。

• 也可用于调整雷达图上的充气膜。

• 实现接触式测量，小显示值为 0.01 μm

产品规格