更新时间：2021-11-17 
阅读：1755日本富士fujiwork薄膜测厚仪型号及用途介绍
标准型/薄膜型
薄膜测试仪连续测厚机FT-A200 / FT-A200R
配备高精度测量头和放大器单元的高duan机器。
只需设置从生产线上切下的薄膜，您就可以轻松地连续测量厚度。
FT-A200 测量范围 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 测量范围 / 3 μm 至 100 μm
测量分辨率/ 0.01 μm
带内置显示器的紧凑型
薄膜测试仪连续测厚机FT-D200
带有内置显示屏的一体式紧凑型机器。
输送功能得到进一步提升，可实现稳定的连续测厚。
测量范围 10 μm 至 500 μm
测量分辨率 / 0.1 μm
一体成型机的进化版。
只需设置薄膜，您就可以在没有引线的情况下从jian端测量厚度。
测量范围 20 μm 至 500 μm
测量分辨率/0.1 μm
一种通过保持测量头下降速度恒定来消除测量者测量变化的测量仪器。
对超薄膜进行舒适准确的测量。
测量分辨率 0.01 μm
测量范围 200 μm
Stylus R30 硬质合金球面
也可使用电池的紧凑型厚度测量仪。
一种通过保持测量头下降速度恒定来消除测量者测量变化的测量仪器。
测量分辨率 0.1 μm
测量范围 500 μm
Mushroom R30 硬质合金球面
当测量对象较大时推荐使用此方法。
是HKT-1216的大舞台版。
* 测量台以外的产品规格与HKT-1216相同。
测量台 石材平台类型
尺寸约长200 mm x 宽 150 mm x 高 300 mm
当测量对象较大时推荐使用此方法。
是HKT-1200的大舞台版。
* 测量台以外的产品规格与HKT-1200相同。
测量台 石材平台类型
尺寸约长200 mm x 宽 150 mm x 高 300 mm
无绳和轻便的固定式测量仪器。
即使在没有电源的地方，您也可以轻松测量 0.1 μm。一种保持测量头下降速度恒定并消除测量偏差的测量仪器。
测量分辨率 0.1 μm
测量范围 8 mm
无绳和轻便的固定式测量仪器。此外，实现了低价格。
一种保持测量头下降速度恒定并消除测量偏差的测量仪器。
测量分辨率 1 μm
测量范围 8 mm
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