更新时间：2022-04-26 
阅读：765铁金属材料的非磁性薄膜厚度测量技术
便携式膜厚仪QNIx系列的特点
无需薄膜校准即可进行精确的薄膜厚度测量
出厂时输入 16 点校准数据即可交付。
这消除了繁琐的薄膜校准工作，并实现了精确的薄膜厚度测量。
薄膜厚度测量数据传输新技术
在传统的测量仪器中，测量数据是通过用电缆连接仪器主体和个人计算机来传输的。QNIx 系列使用，只需将其插入 USB 端口即可进行传输。可以更快、更轻松地查看测量数据。
超轻量无线测量仪
探头测量的数据以无线方式传输到主机。与传统产品一样，它还降低了被电缆卡住、挡路和导致坠落事故的风险。此外，探头重 30 克，超轻巧，因此您不必随身携带沉重的仪器。
不易折断且在被测物体上无痕迹的探头
QNIx 系列探头采用增强塑料包围，可将耐用性提高 30%。即使发生故障，也很容易拆卸和维修，因此缩短了维修周期。此外，附有红宝石前端，因此可以安全地进行测量，而不会损坏待测物体（样品）。
QNIx系列比较规格表
| | QNIx 8500 | QNIX | QNIx 7500 | QNIX 验车 | QNIX Handy |
| 可测量薄膜 | [F] 铁材料上的非磁性涂层 | [FN]铁和非铁材料上的非磁性、非导电涂层。 | [FN]铁铝材料上 | ||
| 材料识别 | 铁和非铁材料的 | 铁和非铁材料的自动识别交换 | 用户规定的转换 | 铁和非铁材料的 | 铁/非铁，自动 |
| 测量原理 | [F] 磁通量（霍尔效应） | ||||
| 测量范围 | 0 至 2,000 μm | 0 ~ 3,000 微米 | 0 至 2,000 μm | 0 ~ 5,000 微米 | 0～500微米 |
| 分辨率 | 0.1 μm、1 μm | 1微米 | 0.1微米 | 0.1微米，1微米 | 5微米 |
| 配置格式 | 0点校正 | 0点校正 | 0点校正 | 无校准功能 | 无校准功能 |
| 准确性 | ± (1 μm + 2%) | ± (2 微米 + 3%) | ± (1 微米 + 3%) | ± (1 μm + 2%) | ± (10 微米 + 5%) |
| 测量速度 | (约40次/分钟) | 600ms（约70次/分钟） | 1,300ms（约46次/分钟） | 1,500ms（约40次/分钟） | 600ms（约100次/分钟） |
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