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日本理研计器大气光电子产率谱仪AC-5 光学测量仪
参考价:¥80000

型号:

更新时间:2024-03-26  |  阅读:425

详情介绍

日本理研计器大气光电子产率谱仪AC-5

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功能 (*) 为可选


采用平板式开放式计数器,可计数高达 4000 cps 的光电子

能够安装尺寸达 180 x 180 毫米的大型样品

任何位置都可以通过点定测量进行测量。

使用样品更换器 (*) 可自动测量多达 25 个板状或粉末状样品。

通过使用Xe(氙)灯(*),可以以高灵敏度测量不易产生电子的物质。

目的

有机EL和复制感光材料的电离势测量

硬盘和磁带摩擦学研究

半导体和引线框架表面氧化态的测量

精密电子材料中分子级薄膜污染检测

测量以下功能材料的电离势:
有机EL、有机太阳能电池、有机晶体管、复印感光材料、钙钛矿太阳能电池、量子点、碳纳米材料、催化剂材料、蓄电池、燃料电池、半导体材料(Si、GaN) 、GaAs等)、透明导电膜(ITO、FTO等)

日本理研计器大气光电子产率谱仪AC-5

产品分类

大气光电子产率谱仪

模型

交流-5

测量原理

大气光电子产率谱仪(检测部分:低能光电子计数法)

光电探测器

平面开放式柜台

紫外线能量范围

3.4~6.2eV

最小光量

1.0nW 或更低(5.9eV 时)

最大光强度

500.0nW 或以上(D2 灯)/2500.0nW 或以上(选项:Xe 灯)(5.9ev 时)

重复性(标准差)

功函数0.02eV(样品:金板)

紫外光源

D2灯/Xe灯(可选)

紫外光斑尺寸

4 x 4 mm或更小(由于聚光透镜的色差而因能量而异)

最大光电子计数率

4000cps

光谱仪

光栅式单色仪

最大样本量

面积180×180mm以下,厚度1±0.2mm以下

温湿度范围

温度范围15-35℃,湿度20-60%RH

电源

AC100V-240V
50/60Hz 5A (MAX)
*不包括控制电脑

外形尺寸

光源部分 LC-1:约 450(W) x 300(H) x 500(D)mm
测量部分 DC-1:约 600(W) x 380(H) x 500(D)mm

重量

光源部分 LC-1:约 35 kg
测量部分 DC-1:约 50 kg *不包括控制 PC


日本理研计器大气光电子产率谱仪AC-5
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