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shibuya高精度反射率测量装置MSP-100 光学测量仪
参考价:¥30000

型号:

更新时间:2023-11-13  |  阅读:366

详情介绍

shibuya高精度反射率测量装置MSP-100 

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  • 通过使用特殊的半反射镜,可以减少背面反射光,无需背面处理即可在短时间内进行精确测量。
    (可测量 0.2 mm 薄板的反射率:使用 ×20 物镜时)

  • 还可以测量镜片曲面和涂层不均匀度。(在样品表面连接微小点(φ50μm))

  • 即使是低反射率的样品也可以在短时间内进行测量,并且具有高重复性。(光学设计捕获最大量的光,并
    通过512元件线性PDA、内置16位A/D转换器和USB 2.0接口的高速计算实现快速测量。)

  • 可以进行色度测量和L*a*b*测量。可以使用光谱比色法根据光谱反射率来测量物体。

  • 数据可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。

  • 单层薄膜可以非接触式、非破坏性地测量。

  • 具有在同一屏幕上显示多个测量结果的功能。轻松比较测量结果。

shibuya高精度反射率测量装置MSP-100 

规格

型号MSP-100
测量波长380~1050nm
测量重复性±0.2%(380-450nm)
±0.02%(451-950nm)
±0.2%(951-1050nm)
样品面 NANA 0.12(使用 10 倍物镜时)
样品测量范围φ50μm(使用10倍物镜时)
样品曲率半径-1R~-无穷大, +1R~无穷大
显示分辨率1纳米
测量时间几秒到十几秒(取决于采样时间)
外形尺寸(宽)230×(高)560×(深)460mm(仅机身)
工作温度限制18~28℃
工作湿度60%以下(无凝露)




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