• 通过使用特殊的半反射镜，可以减少背面反射光，无需背面处理即可在短时间内进行精确测量。
  （可测量 0.2 mm 薄板的反射率：使用 ×20 物镜时）

• 还可以测量镜片曲面和涂层不均匀度。（在样品表面连接微小点（φ50μm））

• 即使是低反射率的样品也可以在短时间内进行测量，并且具有高重复性。（光学设计捕获最大量的光，并
  通过512元件线性PDA、内置16位A/D转换器和USB 2.0接口的高速计算实现快速测量。）

• 可以进行色度测量和L*a*b*测量。可以使用光谱比色法根据光谱反射率来测量物体。

• 数据可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。

• 单层薄膜可以非接触式、非破坏性地测量。

• 具有在同一屏幕上显示多个测量结果的功能。轻松比较测量结果。

shibuya反射率测量装置MSP-100