日本spectra USB简易膜厚测量装置Handy Lambda Ⅱ Thickness 

由于光照射在透明或半透明的薄膜上，并且根据光的光谱信息计算薄膜厚度，因此作为一种在不损坏样品的情况下具有良好再现性的测量方法而备受关注。
由于样品是用光纤照射的，因此可以从任何位置在线使用。
当与致动器结合使用时，也可以进行简单的映射膜厚度测量。