关闭

当前位置：首页  >  产品展示  >  其他设备  >  探伤仪  >  日本asahi表面缺陷评估装置ALTIS-RP

日本asahi表面缺陷评估装置ALTIS-RP
参考价：￥

型号：

更新时间：2024-03-21  |  阅读：1146

详情介绍

日本asahi表面缺陷评估装置ALTIS-RP

切割样品表面缺陷的评估和检查
可以通过分辨率为 15 μm 的缺陷图轻松校准和验证。

应用/功能





它可以作为离线表面缺陷校准的专家设备，这是质量评估*的
。













设备配置




该设备是用户安装和连接的设备。
只需将检测装置和PC本体安装在水平工作台上，用两条电缆连接检测装置和PC
本体即可完成安装。
















排队





根据泛光灯的配置，ALTIS 分为三种类型。
请根据检测对象和检测缺陷进行选择，并在购买时注明。

* ALTIS-P 可以定制为鱼眼检测模型作为选项。










各种画面




检查画面











扫描切割样品以检测缺陷。您可以在下面的四个屏幕上查看测试结果。





检查结果画面（检测图显示）
检查结果画面（原图显示）









检查结果画面（检测图显示）
检查结果画面（原图显示）





检查结果屏幕（缺陷列表显示）
检查结果屏幕（显示检测图像列表）









检查结果屏幕（缺陷列表显示）
检查结果屏幕（显示检测图像列表）





信息管理画面（结果数据一览）










信息管理画面（结果数据一览）

您可以使用与检查相同的屏幕配置来检查过去执行的检查的数据。
您可以从过去的检查结果中选择任何数据，并将其以 CSV 格式保存
到 USB 存储器中。






信息管理画面（检测图显示/原始图像显示/缺陷列表显示/检测图像列表显示）




您可以在与测试时相同的四个屏幕上查看过去的测试结果。





信息管理画面（检测图显示）信息管理画面（原图显示）信息管理画面（缺陷列表显示）信息管理画面（显示检测图像列表）





浓度测量画面










浓度测量画面

您可以调出有缺陷图像的浓度测量屏幕。在密度测量屏幕上，您可以分析
缺陷的等级和大小。






检查条件设定画面










检查条件设定画面
多可以注册100个品种
。可以为每种产品类型注册
各种设置，例如检测灵敏度和尺寸。
在检查开始时，
只需选择注册品种即可
设置适当的检查条件 。





波形监视器










波形监视器

可以使用波形监视器功能调整探测器（相机/泛光灯） 。





* 设备启动时，每个屏幕上显示的语言可以从日语、韩语和英语中选择。

日本asahi表面缺陷评估装置ALTIS-RP





规格







解析度宽度方向 15 μm × 长度方向 15 μm
相机CCD线阵传感器相机（单色）10680像素/80MHz
泛光灯LED 线状照明（可从以下选择）
、ALTIS-RP（反射/透射）
、ALTIS-R（反射）
、ALTIS-P（透射）
样本量尺寸：210mm x 297mm（A4 尺寸）
厚度：0.05mm ~ 1.0mm
检测判断明/暗渐变，宽度/长度/面积
移动速度工作台移动速度 6 m/min。
检查时间约 15 秒（每张）
检查范围拍摄范围：160 mm x 230 mm (10680 pix. X 15333 pix.)
测量范围：150 mm x 220 mm (10000 pix. X 14667 pix.)
图像文件存储容量：386 MB
图像文件存储容量：多800张
电源AC100-220V 50 / 60Hz
扩展总线：PCI、PCI-Express (x4)
硬盘容量：500GB


  • * 姓名：

  • * 电话：

  • * 单位：

  • * 验证码：

  • * 留言内容：

电话 询价

产品目录