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日本ourstex荧光X射线分析仪OURSTEX 160
OURSTEX 160型被选为东京都政fu于2006年3月执行的《环境安全条例》中用于土壤污染调查(重金属等)的简单快速分析技术(简单分析方法)。
■用于工厂现场的土壤分析... ●可以进行无损且快速的成分分析。 ●紧凑轻巧,因此可以进行现场分析。 ●提高了针对中,重金属元素的灵敏度。 ●Utility仅适用于AC100V-5A。 ●设备内部是受控区域。
能量色散X射线荧光分析仪用来自X射线管的原始X射线辐照样品,并使用半导体检测器测量产生的X射线荧光,因此无论样品的形状如何,它都是非破坏性的元素定性的。样品。・进行定量分析。
半导体检测器使用不需要液氮冷却的电子冷却的硅漂移检测器(SDD),并且可以与数字计数电路(DSP)结合使用以测量高分辨率和高计数率。
为了提高分析性能,准备了可以使能量分辨率和半导体检测器的计数灵敏度z大化的激发光学系统的条件。
日本ourstex荧光X射线分析仪OURSTEX 160
测量原理 | 能量色散X射线荧光分析方法 |
测量目标 | 用于土壤分析的环境样品(固体/粉末/液体) |
测量元件 | 硫,铬,砷,硒,镉,汞,铅(13 AI- 92 U) |
样品形状 | z大78mmφx 55mmH |
样品室气氛 | 气氛 |
X射线额定输出 | 48kV,2mA高达50W |
探测器 | 电子冷却的硅漂移检测器 |
计数电路 | 数字处理方式 |
使用条款 | 温度:5至27°C 湿度:20至75% 电源:AC100V,5A(50 / 60Hz) 接地:D类接地 |
其他(可选) | 喷墨彩色打印机,鼠标 |