日本中央电机cew微缺陷检测设备

使用高分辨率相机和高精度XY载物台的二维检查设备。
适用于检查光学膜，片，触摸面板等的表面划痕，异物和缺陷。
光学分辨率为“ 1.8μm”，可以进行超高清检查。
它也可以用于尺寸测量，并且可以检查二维冲压产品。

特征

• 检查数据和图像自动保存
• 相机像素数：900万像素
• 高光学分辨率（1.8μm）使精美的检查点看起来更漂亮
• 非常适合检查触摸屏的外围电极，印刷电路板上的细线断线和短路

检查使用

用于检查触摸屏和异物等缺陷！

• 触摸屏周边电极缺陷检查
• 板材表面划痕，异物检查
• 板缺陷检查

规格

日本中央电机cew微缺陷检测设备

光学分解能1.8μｍ・スピード検査　タッチパネス周辺電極・基板表面など、微細欠陥の検査が可能

高解像度カメラと高精度X-Yステージを用いた二次元の検査装置です。
光学フィルム、シートやタッチパネルなどの表面キズ、異物の検査や欠陥検査に適しています。
光学分解能「1.8μｍ」で、非常に高精細な検査が可能です。
寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。