激光热膨胀仪LIX-2 series

低膨胀膜/有机膜的厚度方向和低膨胀玻璃/金属的微小热膨胀可以以1nm的z小分辨率进行检测。
测量热膨胀的方法包括推杆法，光学干涉法，远摄法和电容器法。
采用双光路迈克尔逊激光干涉测量技术，可实现z精que的测量。
通过采用零摩擦平移镜，可以通过简单地将样品端面加工成球形表面来容易地进行测量。
另外，可选的石英垫片可用于在改变温度的同时测量低膨胀膜所需的厚度方向。双光路迈克尔逊激光干涉式热膨胀仪LIX-2是业内唯yi的商用型号。

使用

测量有机膜在厚度方向上的膨胀
低膨胀玻璃的高精度膨胀测量
低膨胀金属材料的质量控制测量
密封剂的膨胀率测量
各种电子元件的精que热膨胀测量
标准热膨胀仪校准样品的测量

特征

平行移动样品架可实现稳定的测量
超精密测量，读数分辨率为1 nm
如果使用石英样品，则可以测量厚度为50至500μm的薄膜或薄板的厚度。

日本advance激光热膨胀仪LIX-2 series

规格

模型	LIX-2M	LIX-2L
温度范围	室温〜700℃	-150-200℃
样品尺寸	φ3至6 mm x长度10 mm至15 mm长度方向的两端均球形加工
测量气氛	➀真空中➁低压高纯度氦气
测量方式	双光路迈克尔逊型激光干涉法

安装面积	机身约W2000毫米x D800毫米
需要电源	主机AC100V 15A（带插座和接地）2个位置
要求接地	D级（接地电阻100Ω以下）
冷却水	自来水或蒸馏水3 L / min以上，压力0.15 MPa以上

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