日本电测densoku涡流膜厚仪DS-110

晶体振荡可实现弯曲/球形对的高精度和短测量时间。

通过数字
开始测量，同时拨动开关即可轻松读取测量值显示，测量时间甚至在一秒钟之内即可获得
晶振方法，稳定性高（±1％）高精度
无损，但由于全面检查可以
直接读取无需转换，因为它是一个表达式

涡流膜厚仪DS-110的特点

易于阅读的数字

测量值显示是数字的，易于阅读。

可以立即测量

开关一打开就可以进行测量。测量时间也在1秒以内。

高稳定性（±1％）高精度

由于采用了晶体振荡方法，因此具有高稳定性（±1％）和高精度。

可以100检查

由于它是非破坏性的，因此可以进行100的检查。

无需转换

它是直接读取类型，不需要转换。

支持各种测量

您可以测量金属上的薄膜，镀层，涂层，树脂等。（例如：铝上的氧化膜，铁上的锌镀层，喷漆）

z多可保存1000个数据

一条检查线可以保存1000条数据。

还可以测量非金属上的金属膜

可以测量非金属上的金属膜（例如塑料上的镀层）。

标配4种膜厚，z多可测量70种膜厚

通过切换开关，您z多可以测量4种类型的膜厚。此外，通过在制造商处更换检测线，可以测量70多种类型的膜厚。

可以在曲面，球形体和内管上进行测量

也可以在曲面和球形物体上进行测量。另外，可以测量管等的内表面（φ12.7mm以上）。

打印输出功能

您可以打印出测量数据和经过统计处理的值。

日本电测densoku涡流膜厚仪DS-110

涡流式膜厚计DS-110的规格