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日本topcon-techno分光辐射计 SR-LEDW-5N
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更新时间:2024-03-18  |  阅读:1470

详情介绍

日本topcon-techno分光辐射计 SR-LEDW-5N

 

产品概要

本产品量程极为宽广,z低可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度;
z高可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价超高亮度级LED的光学特性,是目前行业内的*产品,同时也是TOPCON SR系列产品中的旗舰机型。通过新搭载的FIX模式,实现了测定条件的自动化功能,从而大幅缩短了测定同一样品时的连续测定时间。本产品,不仅仅可应用于目前在市场上急剧扩张的LED背光模组的设计与研发,同样适用于生产流水线上的高效率、高精度管理。

特点

■ 量程特别宽广,宽至0.0005~5,000,000cd/m²。
■ 搭载FIX模式,可大幅缩短生产线上的连续测定时间(和本公司原有产品比较,可缩短1/2时间)
■ 提升了灵敏度的均衡性能,从而能轻松测定LED芯片。
■ 装上照度接口(选配件)后,还能够测定照度(lx)。
■ 光谱波宽、半波宽5nm

主要用途

■ LED背光、LED照明器具的亮度・色度,以及色温度特性,显色性评价。
■ LCD、OLED等,显示器的亮度・色度,色温度特性等所有光学特性评价指标。
■ 车载头灯、尾灯等、LED照明器具的亮度・色度的高精度测定。
■ 作为光学特性评价探头,搭载于各类自动测量机台上。

日本topcon-techno分光辐射计 SR-LEDW-5N

技术规格

光亮采集

电子冷却型线性阵列传感器

波长分散原理

衍射光栅

光学系统

对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5°

测定角

2°/1°/0.2°/0.1° *电动切换式

测定距离

350mm – ∞ (从物镜金属件前端开始的距离)

光谱波宽

5nm *半波宽

波长精度

0.3nm *Hg 波宽线上

测定波长范围

380 – 780nm

波长分解能力

1nm

测定模式

自动/手动 (积分时间/频率) / 外部垂直同步信号输入

测定内容

分光辐射亮度 : W・sr-1・m-2・nm-1

演算内容

辐射亮度 Le : W・sr-1・m-2, 亮度 Lv : cd・m-2,
CIE1931 色度坐标 xy,
CIE1976 色度坐标 u’ v’, 三刺激值 XYZ,
相关色温度,偏差
CIE 表色系 2°/ 10°

亮度测定范围(*1) (*2)

 2°:0.0005 – 1,500,000 cd/m2
 1°:0.0015 – 4,500,000 cd/m2
0.2°:0.0375 – 5,000,000 cd/m2
0.1°: 0.15 – 2,000,000 cd/m2

亮度精度(*1)

±2% 以下

色度精度 (*1)

±0.002

重复精度: 亮度(*3)

1.5% : 0.0005~0.005 cd/m²
0.4% : 0.005~0.1 cd/m²
0.3% : 0.1 cd/m²以上

重复精度: 色度(*4)

0.005 : 0.0005~0.005 cd/m²
0.0015 : 0.005~0.1 cd/m²
0.0005 : 0.1 cd/m²以上

偏光特性

亮度 : 1% 以下, 分光辐射亮度 : 2% 以下 (400 – 780nm)

测定时间(*5)

  NORMAL 模式: 约1 – 248秒
HIGH SPEED 模式: 约1 – 17秒

界面

RS-232C, USB 2.0

电源

AC 电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz

功率

约 36W

使用条件

温度: 5 – 30℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露)

外形尺寸 (W×D×H)

150×406×239mm

质量

约 5.5kg

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