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日本东洋精工toyoseiko气正电子寿命测量仪PSA
*与工业技术研究院共同开发
图1是从正电子进入金属材料到消失的示意图。
正电子寿命测量方法是一种精que地测量在产生阳离子时发射的γ射线与在一对电子消失时产生的γ射线之间的时间差(正电子寿命)的技术。
随着材料中孔隙缺陷的增多和位错密度的提高,正电子寿命会增加。
我们已经开发了一种反巧合(AC)系统,该系统可区分发射到样品另一侧的正电子信号。1) (图1)
通过采用交流系统,可以在不将辐射源与测量样品夹在中间的情况下测量正电子寿命。因此,即使只有一个测试件,也可以进行测量。此外,它可以安全使用,而无需麻烦地处理辐射源。
1) M.Yawakiki等人JJAP 50(2011)086301
日本东洋精工toyoseiko气正电子寿命测量仪PSA
正电子源 | Na-22(〜1 MBq) |
计数率 | 约100 cps |
测量范围 | 40 ns(与金属,半导体和聚合物兼容) |
配饰 | ・ HDO4024(Teledyne LeCroy制造的DSO), (HDO4024尺寸W400 x L132 x H292 [mm]) ·程序 ·笔记本电脑等。 |