日本朝日分光asahi-spectra光谱膜厚监测仪OMD-1000

这是一台光谱膜厚监测仪，用于监测在用单色光进行气相沉积过程中基板上的光量变化。它也用在我们自己的气相沉积设备中，并作为膜厚监测设备完成，该设备具有气相沉积零件制造商的专有技术。

全波长范围

在传统型号中，波长选择是滤光片类型，但是新产品结合了我们成熟的光谱仪，现在可以选择任何波长。
膜厚变化的信号是从电压输出到与个人计算机兼容的数字输出，控制机制是从手动操作到个人计算机的命令控制。此外，通过将薄膜厚度计主体通过I / F直接连接到个人计算机来控制其厚度成为可能，这是一个非常紧凑的系统，无需像其他制造商一样具有控制器。

特征

• 分光镜设计紧凑

• 通过提高抗噪声性（静电放电测试耐受电压±5 kV）实现高度可靠的膜厚度监控

• 可以通过PC上的命令自动控制

• 通过将控制器合并到接收器主体中来实现高性价比

日本朝日分光asahi-spectra光谱膜厚监测仪OMD-1000

产品规格