配备高精度测量头和放大器单元的机器。
只需设置从生产线上切下的薄膜，您就可以轻松地连续测量厚度。

FT-A200 测量范围 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 测量范围 / 3 μm 至 100 μm
测量分辨率/ 0.01 μm

配备高精度测量头和放大器单元的机器。
只需设置从生产线上切下的薄膜，您就可以轻松地连续测量厚度。

FT-A200 测量范围 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 测量范围 / 3 μm 至 100 μm
测量分辨率/ 0.01 μm

带有内置显示屏的一体式紧凑型机器。
输送功能得到进一步提升，可实现稳定的连续测厚。

测量范围 10 μm 至 500 μm
测量分辨率 / 0.1 μm

一体成型机的进化版。
只需设置薄膜，您就可以在没有引线的情况下从前端测量厚度。

测量范围 20 μm 至 500 μm
测量分辨率/0.1 μm

配备高精度测量头和放大器单元的机器。
只需设置从生产线上切下的薄膜，您就可以轻松地连续测量厚度。

FT-A200 测量范围 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 测量范围 / 3 μm 至 100 μm
测量分辨率/ 0.01 μm

带有内置显示屏的一体式紧凑型机器。
输送功能得到进一步提升，可实现稳定的连续测厚。

测量范围 10 μm 至 500 μm
测量分辨率 / 0.1 μm

一体成型机的进化版。
只需设置薄膜，您就可以在没有引线的情况下从前端测量厚度。

测量范围 20 μm 至 500 μm
测量分辨率/0.1 μm

一种通过保持测量头下降速度恒定来消除测量者测量变化的测量仪器。
对超薄膜进行舒适准确的测量。

测量分辨率 0.01 μm
测量范围 200 μm
Stylus R30 硬质合金球面