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故障测试 HIT-5000 LSI 抗扰度测试仪介绍
更新时间:2021-12-20      阅读:977

故障测试 HIT-5000 LSI 抗扰度测试仪介绍

使用 TLP(传输线脉冲)的设备的抗扰度测试仪。
使用ESD枪的IEC64000-4-2对应设备的抗扰度测试仪很常见,但是当它到达LSI时,它变成了振动波形,结果,由于振动而向正方向摆动时会发生故障。是在负方向摆动时无法区分故障和故障的问题。
在该测试仪中,通过将矩形波直接施加到低阻抗 LSI 的引脚,可以区分正负故障。
通过使用可选的同步单元,可以很好地再现故障事件。
例如,在 CPU 的情况下,通过在 ROM / RAM / IO 访问的时间应用脉冲噪声,可以在每个时间进行抗扰度测试。
此外,方波易于建模为模拟信号源,并有望作为分析工具。

如下图所示,将连接器插入电源或GND线,连接应用探头,设置应用电压和应用次数。图中,过滤器在外部,过滤器的正面在设备内部。由于该设备没有检测 LSI 故障的功能,因此需要采取一些措施,通过在被测设备上安装监视器 LED 来检测故障。
使用同步单元时,需要将来自LSI的同步信号输入到同步单元中。

HIT-5000


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