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无损分析技术的在线膜厚分析仪OURSTEX100TA-F介绍
更新时间:2021-12-13      阅读:832
无损分析技术的在线膜厚分析仪OURSTEX100TA-F介绍

介绍利用我们的无损分析技术的在线膜厚分析仪。

 

 【特征】 

 ● 可进行在线膜厚分析 

 ● 电源只有AC100V,节电装置 

 ● 可根据应用自由定制 

 ● 配备SDD检测器,无需液氮或冷却水  

【应用实例】 

 ● 高性能成膜膜在线膜厚分析 

 ● 金属叶片在线分析 

 ● 溶液、液体等的在线分析。

 

安装示例

       (安装在成膜装置上的例子) (安装

                                     测量头的例子)即使在真空中也可以安装测量头。
                                     (真空度将单独讨论。)

组件示例

测量头与电源之间的连接电缆长度为2.7m
USB 电缆用于设备和 PC 之间的通信。

输出显示示例

 

尺寸图

 

应用实例

在线薄膜测厚仪的实例和性能评估

化学溶液中金属元素的在线浓度控制分析示例

OURSTEX 100TA-F 规格

测量原理

 能量色散X射线荧光分析法

测量对象

 电影

电源供应

 AC100V-240V

安装环境温度

 5-27℃

设备冷却

 水冷*1

X射线额定输出

 40kV1.0mA40W

探测器

 SDD(硅漂移探测器)

计数电路

 DSP(数字信号处理器)

测量头尺寸

 温度:527℃
 266Wx 136Dx 160Hmm*2

 
* 1:测量头(内部)经过水冷。
* 2:如有更改,恕不另行通知。

待测样品的详细规格、目标元素、精度、操作等将单独讨论。请随时与我们联系。  

* OURSTEX100TA-F的引进,需要提前通知劳动基准监督署。

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