更新时间：2021-09-26 
阅读：1167软膜和薄膜用台式离线电容式测厚仪TOF-C2
| 模型 | TOF-C2 * TOF-C的后继机型 |
|---|---|
| 测量方法 | 非接触式/电容式 |
| 测量对象 | 薄膜、粘性保护膜、易沾灰尘的薄膜 |
| 测量原理 | 电容式 |
高测量分辨率
由于它是非接触式，因此非常适用于难以用接触式测量的薄膜。
即使表面状况粗糙，也可以进行测量。
基重测量
操作简单（具有自动介电常数设置功能）
| 测量厚度 | ~ 500 微米 |
|---|---|
| 测量长度 | 10 至 10000 毫米 |
| 测量间距 | 1 毫米 ~ |
| 小显示值 | 0.01微米 |
| 电源电压 | AC100V 50 / 60Hz |
| 工作温度限制 | 5-40°C（测量时温度变化1°C以内） |
| 湿度 | 35-80%（无冷凝） |
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