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微米瑕疵无所遁形|UIH 系列超高辉度检测照明,点亮精密制造质检新高度
更新时间:2026-05-29      阅读:96

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在半导体、光学玻璃、精密元器件等高1端制造领域,1μm 以下微气泡、微划痕、内部异物、表面雾度,一直是困扰目视检测的 “隐形杀手"。普通照明亮度不足、光路不均、易漏检误检,严重拉低良率与品质。

日本インテックス匠心打造的UIH 系列超高辉度检测用照明装置,以丁达尔效应为核心,用极1致强光与专业光学设计,让微缺陷清晰显形,人人都能快速、稳定完成高精度目视检测,成为产线与实验室的质检利器。

一、核心优势:强光 + 专业光学,缺陷一眼可见

1. 超高亮度,击穿盲区

  • 采用定制高辉度卤素灯,搭配大口径非球面透镜,中心亮度最高可达60 万 lux,光路规整、平行度优异,微弱瑕疵瞬间强化对比。

  • 亮度与照射径成平方反比,小光斑更高亮,按需调节不浪费光效。

2. 专业光学,精准成像

  • 非球面透镜优化设计,UIH‑1/2/3 亮度型 F 值0.78–0.92,高亮聚光;UIH‑1H 专用雾度检测型F=2,聚焦成像,投射 3 条检测标记,靠对比度精准判定晶圆雾度。

  • 抛物面冷反光镜,光效更高、散热更优,长时间稳定工作。

3. 安全耐用,工业级可靠

  • 灯箱与电源分体设计,散热独立、操作更安全。

  • 强制空冷 + 过热监控:UIH‑2/3 型超温自动熄灯,冷却至 40℃自动停扇,全面保护光源与设备。

  • 缓启缓灭点灯逻辑,大幅延长灯泡寿命,最高辉度寿命50–75 小时,半辉度寿命最长1800 小时,降低使用成本。

4. 灵活适配,全场景覆盖

  • 照射径、高度、角度自由可调,支架分自立型 (UIH‑1/1H) 与独立型 (UIH‑2/3),适配不同工位与检测台。

  • SCR 相位控制调光,50/60Hz 自动适配,亮度宽幅可调,满足不同材质与缺陷检测需求。


二、四大机型,精准匹配需求

表格
型号功率典型亮度核心用途
UIH‑1C/H15V 150W中心 60 万 lux通用微瑕疵 / 晶圆雾度专用检测
UIH‑2C100V 300W中心 40 万 lux中大面积光学件、玻璃检测
UIH‑3C100V 650W中心 30 万 lux大尺寸晶圆、面板、精密组件检测

三、一器多用,覆盖全品类检测

  • 不透明镜面体(晶圆 / 金属 / 掩膜):斜射查表面尘点、划痕;反射查起伏、微裂纹。

  • 透明材料(玻璃 / 透镜 / 石英):垂直 / 斜射,表面 + 内部缺陷同时观测,微气泡、杂质一目了然。

  • 特殊场景:室内浮尘检测、透明容器化学反应 / 混合状态观测、抛光晶圆雾度判定。


四、为什么选择 UIH 系列?

  • 看得清:丁达尔效应 + 超高辉度,1μm 级微缺陷不再漏网。

  • 用得稳:工业级温控、缓启缓灭、强制风冷,长期高负荷不掉链。

  • 调得灵:多角度 + 宽幅调光,一台满足多材质、多工位检测。

  • 更省钱:长寿命光源 + 低维护,大幅降低质检综合成本。


面向未来,以光守护品质

从半导体晶圆到光学镜头,从精密玻璃到高1端组件,UIH 系列以专业强光重新定义目视检测标准,让品质管控更简单、更稳定、更高效。
选择 UIH 系列,告别漏检烦恼,提升良率与口碑,为你的精密制造筑牢品1质第1道防线!


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