便携式半球发射率测量仪PM-E2

便携式半球发射率测量仪PM-E2是基于JAXA宇宙科学研究所为简便获取航天器热设计所需的半球发射率数据而开发的装置，进而实现产品化的测量仪。
通常，为了准确了解物质表面向全方向（半球方向）辐射的能量，需要测量物质表面的温度和半球发射率（而非单一方向的垂直发射率）。此外，在发射率的简易测量中，由于会受到参考样品和测量样品辐射的影响，使表面温度保持一致至关重要。
PM-E2能够在常温下测量考虑辐射影响的半球发射率，而且是一款价格低廉、易于操作的测量仪。
该设备在太阳能电池元件及涂料等材料开发、工厂热能的有效利用与节能设计等方面非常有效。

• 能够快速测量半球入射下的半球反射，并以0.03的不确定度测量半球发射率。

• 能够从小型样品到大型装置的表面进行短时间测量。

  构成

  本装置由测量部和操作部构成，测量部包括黑体炉（约60℃）、积分球（内面镀金）和热电堆检测器，操作部具备基准样品设置、半球发射率显示以及向PC保存数据的功能。

  校正

  采用卡路里计法测量的低全半球发射率的金蒸镀或铝蒸镀（εL = 0.05@293K/Edmund公司制）和高全半球发射率的Black Kapton（εH=0.85@293K/Sheldahl公司制）作为基准样品，测量不确定度为0.03。

  主仕様

  系统

  测定方法
  半球放射率测定范围	0.05～0.95
  传感器波长范围	0.6～42μm（300K黑体辐射能量的95%）
  测量的不确定度	半球放射率值0.03（积分球测量半球放射率的不确定度）
  测量时间	1～3分
  基准样品
  电源	DC12V1A 适配器使用（可使用电池）
  外観寸法
  质量
  保管环境
  付属品

• 使用说明书

• 测量用应用程序CD

• USB线缆 (Type A-Type B)

• 电源线

• 温度：10～45℃

• 湿度：50%RH

• 操作部：约0.2kg

• 测定部：约0.7kg

• 操作部：深度145×宽度82×高度32 (mm)

• 测定部：深度125×宽度60×高度74 (mm)

• 低半球放射率εH=0.05@293K (金蒸着ミラー/ Edmund社製)

• 高半球发射率εH=0.85@293K（黑色卡普顿薄膜/Sheldahl公司制造，或黑体胶带/THI-2B 1-5063-01/旭化成公司制造）

• 对半球入射进行半球反射测定

• 半球放射率εH