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反射率测量装置 MSP-100B/MSP-100IR/MSP-100UV产品介绍
更新时间:2025-06-27      阅读:462

微小领域、曲面、极薄试样的高速、高精度测量以未有的低成本实现

涩谷光学利用与中国企业的合作伙伴关系
提供具有高性价比的反射率测量装置。

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  • 光斑尺寸小,可以测量微小点。

  • 测量时背面的光不会渗入,因此不需要使用磨砂玻璃或黑色涂装进行消光处理。

  • 可测量镜头和平面两者。

  • 操作简单易用,软件界面也简洁。

  • 可视光和UV采用背面照射型CCD传感器,实现了高灵敏度和信噪比

  • 红外线采用InGaAs传感器,对红外区域具有高灵敏度。

  • 通过采用特殊半反镜,可以切割背面反射光,无需背面处理即可在短时间内进行准确测量。
    (可测量薄板0.2㎜的反射率:使用×20倍物镜时)

  • 镜头曲面、镀膜不均也能测量。(在试样面上连接微小斑点(直径50μm))

  • 即使是对低反射样品也能在短时间内进行高再现性的测量。(通过的光学设计最大限度地利用光线,512像素的线性PDA,
    16位 A/D转换器内置,USB2.0接口高速运算实现快速测量)

  • 可以进行色度测量、L*a*b*测量。基于分光反射率,可以进行物体测量。

  • 可以以Microsoft Excel(R)格式保存数据。

  • 可以对单层膜进行非接触、非破坏性测量。

  • 同一画面内可显示多个测量结果,具有显示功能。测量结果的比较变得容易。

规格

型番MSP-100B

MSP-100IR

MSP-100UV

测定波长MSP-100B: 350~1100nm
MSP-100IR: 900~1700nm
MSP-100UV: 230~800nm
测量再现性(B型)±0.2%(380~450nm)
±0.02%(451~950nm)
±0.2%(951~1050nm)
测定S/N比(B型)1000:1(400nm-900nm)
试料侧N.A.N.A. 0.12(10×物镜使用时)
试料的测量范围φ50μm(10×物镜使用时)
试料的曲率半径-1R~-∞、+1R~∞
表示分解能1纳米
测定时间数秒~十数秒(采样时间有所不同)
外形寸法(宽)230×(高)605×(深)510毫米(仅本体)
重量15千克
电源单元供給电源:100-240VAC
消耗功率:80W
输出灯电压:5-10VDC
外形尺寸:(W)231×(H)130×(D)220mm
重量:2.5KG
使用温度范围:18~28℃
使用湿度:60%以下(无冷凝现象


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