PVB膜测厚仪TOF-4R05在各行业的使用

在精密制造领域，薄膜厚度的精准控制是产品质量的核心保障。日本YAMABUN山文电气推出的TOF-4R05台式离线接触式测厚仪，凭借其性能与智能化设计，成为PVB膜、锂电池隔膜、光伏薄膜等高精度材料测厚的之选！

核心优势

1. 超高精度，稳定可靠

• 测量厚度范围覆盖0.03～3毫米，最小显示值达0.5微米，满足超薄至中厚材料的精密检测需求。

• 采用夹层法/夹持式测量，即使面对卷曲、缠绕的厚板或薄膜，也能确保数据精准无偏差。

2. 全自动操作，高效便捷

• 自动运输测量功能消除人为误差，数据实时显示并自动保存至电脑，支持后续分析与追溯。

• 可选配0.1mm间距测量、连续测量及图像传输功能，大幅提升检测效率。

3. 多场景适配，广泛兼容

• 适用于PVB膜、锂电池隔膜（厚度14-25μm）、光伏电池薄膜、半导体芯片镀层等多样化场景。

• 支持雷达图分析，助力充气膜调整及工艺优化，适配生产线上的涂布、辊压、收卷等关键工序。

4. 环境友好，稳定耐用

• 工作温度范围5-40℃，湿度适应35-80%，满足严苛工业环境需求。

• 低功耗设计（50VA），兼容全球电压（AC100-240V），节能高效。

行业应用案例

• 光伏行业：用于太阳能电池薄膜的厚度检测，优化光电转换效率，提升良率。

• 锂电池制造：精准测量隔膜与极片厚度，保障电池安全性与能量密度。

• 半导体领域：晶圆薄膜厚度分析，确保器件性能符合设计规范。

增值服务与配置

• 可选配卷纸打印机、专用探头及压纸机构，满足定制化需求。

• 数据联网功能支持实验室管理系统（DSM），实现生产全流程智能化管理。

选择TOF-4R05，即选择精准、效率与未来！
无论是研发实验室还是规模化产线，TOF-4R05以日本技术与全自动化设计，助您突破质量瓶颈。