更新时间：2024-09-10 
阅读：266反射率检测仪TSS-5X-3的运用分析
透射/反射光谱是材料本身的一项重要光学特性，在现今工业蓬勃发展的背景下，对材料本身特性的质量控制越来越严格，从而利用光谱仪进行快速准确的反射光谱/透射光谱的测量技术也开始日渐成熟。
透射/反射光谱仪系统具有测量快速，准确，方便集成等优点，目前已经广泛应用到实验室检测、产品在线测试等应用。目前的主要应用在：
高分子材料反射/透射测试
建筑玻璃 反射/透射测试
在线 反射/透射测试
光伏压花玻璃 透射测试
干涉滤光片 透射测试
薄膜样品 反射/透射测试
各种晶体、塑料、纺织品等反射测试
平板、LCD、背光板、手机/平板油墨孔等透射测量
光谱反射测量的基本原理是利用光纤将光源输送到物体的表面，再将材料的光谱反射数据传到光纤光谱仪上，由软件将其显示，并对其进行分析，从而可以对待测样品进行鉴定。在测量时，将一面与基准光路呈一定角度的标准反射器置于测量光路上，并以其反射光谱为参照。当暗光谱和参考光谱都收集完毕后，可以将被测量的样品替换为标准的反射板，进行后续实验的测试。
使用发射率计TSS-5X-3，您可以轻松测量样品在室温下的发射率。发射率值以数字方式显示，方便查看，操作简单。
TSS-5X-3 可让您轻松测量室温下的发射率。
样品的发射率以数字方式显示，方便查看，操作方便。
它被应用于从研发到大规模生产线的广泛领域，包括空间、半导体和核电。
通过了解发射率，您可以提高加热设备的辐射效率，设计强调散热和隔热的材料，还可以用于节省能源。
TSS-5X-3使用两种类型的参考件（发射率0.06和0.97），其参考发射率是预先已知的，并且可以在室温下轻松测量，无需加热样品。
它被应用于从研发到大规模生产线的广泛领域，包括空间、半导体和核电。
红外线被样品反射，一部分红外线通过半球形黑体炉顶部的小孔进入。
检测元件以恒定速率检测该能量。
| 模型 | TSS-5X-3 |
|---|---|
| 测量方法 | 使用红外检测的反射能量测量方法 |
| 测量波长 | 2～22μm |
| 测量范围 | 发射率：0.00~1.00 |
| 准确度等级 | 满量程的 ±1% |
| 测量面积 | Φ15mm |
| 测量距离 | 12mm（检测头柱固定） |
| 样品温度 | 10-40℃（室温） |
| 测量值显示 | LED数字显示（显示至小数点后第二位） |
| 输出 | 0-0.1V、0-1V、满量程 |
| 工作温度/湿度范围 | 10~45℃/35~85℃（无凝结） |
| 电源/电力 | AC100-240V，50/60Hz，30W *不含电源线。请选择适合您所在位置的电源线。 |
| 尺寸/质量 | 检测头：Φ51 x 137Lmm、0.6kg（含3000Lmm机器人电缆） 测量单元：156H x 306W x 230Dmm（不含橡胶脚柄等）、5.0kg |
| 配件 | 发射率标准件存放盒：84H x 238W x 185Dmm，1.1kg 发射率标准件：0.06（镜面）、0.97（黑体），各存放 1 个 |
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