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适合低通滤光片和蓝色滤光片晶体板纹理不均检查技术介绍
更新时间:2024-05-27      阅读:771

适合低通滤光片和蓝色滤光片晶体板纹理不均检查技术介绍

用监视器目视观察光学元件的光学不均匀性的装置。

该检查装置是将水晶板、玻璃等透明物体内部的条纹、表面的抛光不均、抛光痕迹可视化的装置。非常适合检查低通滤光片和蓝色滤光片的晶体板。

观察到的图像背景中有微弱的斑驳图案。这是由于安装的镜头等光学元件的表面抛光造成的,会妨碍观察。专用软件“ClearBack"使背景清晰,检查更轻松。有一种称为纹影法的观察方法可以可视化折射率的变化,但该装置的观察方法是阴影图法。这可以防止由于刀口处发生干扰而导致图像变得模糊。


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检查方法阴影图法,顾名思义,就是“阴影图"。从点光源发出的光被一个透镜转换成平行光,然后被下一个透镜会聚以拍照。如果将有条纹等缺陷的样品放置在两个透镜之间,平行光就会受到干扰,导致图像中出现亮度不均匀的区域。
观察范围约φ45mm
光源高亮度蓝光LED
测量波长450-465nm
有效像素1080(水平)×824(垂直)
调光功能音量调暗
外形尺寸(主体)水平(标准)W1030 x D160 x H205mm
垂直(可选)W380 x D455 x H1245mm
体重(身体)29公斤
作品主机/PC/电缆
配件样品架/机身盖
选项立式支架(重量:10kg)
使用环境摄氏度10~35度湿度20~80%(无凝结)
显示器最大分辨率1920 x 1200(24 英寸宽)
操作系统Windows 10(64位)
软件专用软件“ClearBack" 图像亮度不均匀校正使背景均匀,更容易确认缺陷。


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