强光检查灯185le在半导体行业的运用

在集成电路制造中，对晶粒表面的缺陷进行检测至关重要，如裂纹、碎片和烧痕等，这些缺陷可能影响晶粒的质量和性能。这些缺陷的性质多变，位置各异，基于规则的机器视觉难以准确检测。同时，还需要避免标记对芯片质量不造成影响的微小畸变，以提高效率。考虑到芯片尺寸各异且数量众多，传统的人工检测方法低效且不切实际，还可能引入无尘室的污染。

185le强光检查灯可以识别晶粒表面上各种不可接受的外观缺陷，这些缺陷对于基于规则的视觉检测系统而言过于复杂或耗时。该工具检查晶粒的表面，以检测是否有裂纹、碎片或烧痕。

主要型号：高照度表面检查灯185LE/185FI/185LE-AL/370TFI/R/100LE

高照度照明设备(表面检查灯) 185LE-AL是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。

适合于TFT面板、CF(彩色滤光片)，触摸屏制造等行业。

规格参数：