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正电子寿命谱仪 (PSA)的原理分析
更新时间:2022-11-30      阅读:855

正电子寿命谱仪 (PSA)的原理分析

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产品概要

  • 这是一种可以使用正电子评估亚纳米尺寸(原子级)的微小缺陷和空隙的方法。

  • 正电子寿命测量是一种能够使用正电子评估亚纳米尺寸(原子级)微缺陷和空隙的技术。

本装置应用实例

  •  喷丸质量检查

  • 金属疲劳损伤评估

适用于

  •  钢、铝、钛等各种金属

  •  非晶态材料,例如玻璃和聚合物

  •  测量深度距表面约50μm(钢材)

  • *与产业技术综合研究所共同开发

正电子寿命法原理

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  • 图1是正电子进入金属材料并湮灭的示意图。
    正电子寿命测定法是准确测定正电子产生时放出的γ射线与电子对湮灭时产生的γ射线的时间差(正电子寿命)的技术。材料中空位越多,位错密度越高,正电子寿命越长。

  • ■所谓阳电子

  • 带正电荷的电子“反粒子"。与电子相遇就会对消失γ放出线。

  • ■所谓正电子寿命

  • 是指正电子与电子相遇并消失之前的时间(寿命)。正电子寿命取决于电子密度,空隙尺寸越大,电子密度越低,所以正电子寿命会更长。

常用规格

正电子源Na-22 (~1MBq)
计数率约 100 厘泊
测量范围40 ns(对于金属、半导体和聚合物)
附属设备・HDO4024(Teledyne LeCroy DSO)、
(HDO4024 尺寸 W400 × L132 × H292 [mm])
・特殊程序
・笔记本电脑等。


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