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densoku电解膜厚计的原理分析
更新时间:2022-11-07      阅读:605

densoku各类膜厚计的原理

镀膜厚度是通过阳极电解法溶解镀膜来测量的。(阳极电解电路见图1。)在镀膜结束时,由于测量部分被恒流溶解,膜金属消失,当金属出现时,阳极电压发生变化,检测到此电压变化以结束测量。(见图2)

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电解膜测厚仪的特点

  • 虽然是破坏型测量,但可以通过简单的测量进行测量,也可以测量多层镀层。

  • 可测量双镍和三镍各层的膜厚和电位差

  • 可以分别测量在铜上镀锡时形成的纯锡层和合金层的厚度。

  • 可测量 X 射线无法测量的厚多层镀层(最大 300 μm)

  • 通过使用电线测试仪,可以测量细电线上的镀膜厚度。

使用示例

  • 镀锡线(镀锡铜线)纯锡层厚度测量

  • 汽车外饰件用Cr/Ni/Cu三层镀层
    测量,Ni镀层用双镍/三镍电位差测量

  • 对无损膜厚计的测量进行交叉检查

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